특허(전기전자)
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본 발명은 각종 설비의 깊거나 좁은 위치의 피 측정물의 전기적 건전성 측정이 가능하도록 제작되는 심부 측정용 프로브 기구에 관한 것으로서, 서로 대향되는 두 탐침대와, 상기 두 탐침대의 일단을 연결시키는 연결대와, 상기 두 탐침대의 타단의 안쪽 면에 각각 마련되는 도체 판으로서, 곡면으로 형성되어 볼록한 돌출면이 서로 대향되는 탄성 전극판을 포함하여 이루어져서, 좁거나 깊은 틈새에 위치하는 피 측정물에도 쉽게 접근 및 고정이 가능하고, 피 측정물과 면접촉이 이루어지므로 피 측정물의 표면에 손상을 주지 않으며, 면접촉 및 탄성 접촉이 이루어지므로 안정된 접촉이 이루어져 오차가 최소화 되어 신뢰성 있는 측정결과가 제공되고 구조가 간단하여 제작비용이 저렴하며 측정시간 및 인력을 단축시킬 수 있는 심부 측정용 프로브 기구를 제공하고자 한다.
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